影响光谱分析仪测量有哪些内在因素

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　　光谱分析仪一般应用于合金分析仪检测、矿石元素含量测定和土壤重金属现场分析。那么如何保证手持光谱仪在使用中的顺利应用?这需要在使用之前对设备进行全面仔细的检查。

　　在了解了光谱分析仪的投射测定的相关内容后，我们再来看看影响测量的一些内在因素。

　　1.物理干扰

　　物理干扰是指在样品转移和蒸发过程中任何物理因素变化引起的干扰效应。属于此类干扰的因素包括：测试溶液的粘度、溶剂的蒸气压、雾化气体的压力等。物理干扰是非选择性干扰，对样品元素的影响基本相似。

　　制备类似于测试样品的标准样品是消除物理干扰的常用方法。当样品的成分未知或无法匹配时，可以使用标准添加方法或稀释方法来减少和消除物理干扰。

　　2.化学干扰

　　化学干扰是指由测试元件与其他组件之间的化学相互作用引起的干扰效应。它主要影响测试元件的原子化效率，并且是原子吸收分光光度法中干扰的主要来源。这是由于在液相或气相中被测元素的原子与干扰物质的组成之间形成了热力学更稳定的化合物，这影响了被测元素化合物的离解和原子化。

　　消除化学干扰的方法包括：化学分离;使用高温火焰;加入释放剂和保护剂等。

　　3.电离干扰

　　高温下原子的电离会降低基态原子的浓度，并导致原子吸收信号降低，这种干扰称为电离干扰。电离效应随温度和电离平衡常数的增加而增加，而随被测元素浓度的增加而减小。添加更容易电离的碱金属元素可以有效消除电离干扰。

　　4.光谱干扰

　　光谱干扰包括谱线重叠、光谱通带内存在非吸收线、原子化池内的直流发射、分子吸收、光散射等。当采用锐线光源和交流调制技术时，前3种因素一般可以不予考虑，主要考虑分子吸收和光散射地影响，它们是形成光谱背景的主要因素。

　　5.分子吸收干扰

　　分子吸收干扰是指由原子化过程中产生的气体分子，氧化物和盐分子吸收辐射引起的干扰。光散射是指在雾化过程中生成的固体颗粒会散射光，从而使散射光偏离光路，并且无法被检测器检测到，从而导致高吸收值。